Notifications

You are here

อีบุ๊ค

การทดสอบประสิทธิภาพของเทคนิคสเปกโตรสโกปีย่านใกล้อิ...

TSRI E-library

Description
1. เพื่อพัฒนาสมการ NIR สำหรับทำนายค่าคุณภาพอ้อยย่อยที่ใช้เป็นวัตถุดิบในโรงงานน้ำตาลโดยใช้ตัวอย่างอ้อยจริงในโรงงาน 2. เพื่อทดสอบประสิทธิภาพของสมการ NIR สำหรับทำนายค่าคุณภาพอ้อยย่อยที่ใช้เป็นวัตถุดิบในโรงงานน้ำตาล 3. เพื่อคำนวณจุดคุ้มทุนทางเศรษฐศาสตร์และประสิทธิภาพการผลิตของน้ำตาลเมื่อมีการประยุกต์ใช้เทคนิค NIR เป็นเครื่องมือในการตรวจวิเคราะห์คุณภาพอ้อยในโรงงานน้ำตาล

Date of Publication :

07/2021

Publisher :

มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์

Category :

-

Total page :

pages


People Who Read This Also Read

เว็บไซต์นี้ใช้คุกกี้

เราใช้คุกกี้ (Cookie) เพื่อใช้ในการปรับปรุงประสิทธิภาพเว็บไซต์ ท่านสามารถศึกษารายละเอียดการใช้คุกกี้ได้ที่ นโยบายคุกกี้
ยอมรับ